معرفی و تاریخچهبرنامه راهبردیامکانات و خدماتکارگاه آماده سازی نمونهکتابخانه و موزه زمین شناسیآزمایشگاه مطالعات میکروسکوپیمطالعات سیالات درگیرطیف سنج فلوئورسانس اشعه ایکس (XRF)دستگاه طیف سنج پلاسمای جفت شده القایی (ICP-OES)آزمایشگاه مرکزینمودار سازمانی
| تاریخ ارسال: ۱۴۰۳/۹/۱۹ |
کلیدواژه ها: آشنای با اصولو کاربردهای روش پراشه اشعه ایکس |
دفعات مشاهده: ۵۵۴ بار |
دفعات چاپ: ۷۵ بار |
دفعات ارسال به دیگران: ۰ بار |
۰ نظر
