دانشکده علوم زمین- طیف سنج فلوئورسانس اشعه ایکس (XRF)
XRF

حذف تصاویر و رنگ‌ها  | تاریخ ارسال: 1399/7/12 | 
دستگاه طیف­سنج فلوئورسانس اشعه ایکس (XRF) مدل PW۲۴۰۰ می­باشد. این دستگاه برای آنالیز و شناسایی کیفی و کمی عناصر در سنگ استفاده می­شود. این آزمایشگاه مجهز به دستگاه خردایش و نرمایش برای تهیه نمونه­های زمین­شناسی است. دقت تجزیه کمتر از ۰/۰۱ برای SiO۲ و Al۲O۳ و کمتر از ۰/۰۵ برای دیگر عناصر است.
آدرس الکترونیکی ارتباطی: M.Ghasemikhu.ac.ir
نشانی مطلب در وبگاه دانشکده علوم زمین:
http://khu.ac.ir/find-81.25281.58643.fa.html
برگشت به اصل مطلب