معرفی و تاریخچهبرنامه راهبردیامکانات و خدماتکارگاه آماده سازی نمونهکتابخانه و موزه زمین شناسیآزمایشگاه مطالعات میکروسکوپیمطالعات سیالات درگیرطیف سنج فلوئورسانس اشعه ایکس (XRF)دستگاه طیف سنج پلاسمای جفت شده القایی (ICP-OES)آزمایشگاه مرکزینمودار سازمانی
| تاریخ ارسال: ۱۴۰۲/۷/۲۶ |
کلیدواژه ها: جلسه معارفه تحصیلات تکمیلی کارشناسی ارشد و دکتری |
دفعات مشاهده: ۹۷۳ بار |
دفعات چاپ: ۱۴۶ بار |
دفعات ارسال به دیگران: ۰ بار |
۰ نظر
